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JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)),致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器,JIMA分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
Type 81高分辨測(cè)試卡(X射線檢測(cè)用線對(duì)卡)、二度星卡(2度星卡,焦斑卡)是醫(yī)院、疾控中心、第三方檢測(cè)單位用來(lái)檢測(cè) X射線機(jī)等透視成像設(shè)備的X射線的分辨率的裝置。
JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡 測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm 芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm 圖案布局:T型 (3-10μm) I 型 (15-50μm) 線/空間尺寸:16種規(guī)格圖案,
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